鍍層測厚儀

天瑞儀器鍍層測厚儀廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。采用電磁感應法測量鍍層厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電阻感的變化。利用這一原理可以準確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，這個距離即鍍層厚度。具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量*的檢測儀器。下面，我們來看看天瑞儀器鍍層測厚儀的分類方法。
    根據測量原理一般有以下五種類型：
    1、磁性測厚法
    適用導磁材料上的非導磁層厚度測量，導磁材料一般為鋼、鐵、銀、鎳等，這種方法測量精度高。
    2、渦流測厚法
    適用導電金屬上的非導電層厚度測量，這種方法較磁性測厚法精度低。
    3、超聲波測厚法
    適用于多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合，但是價格較貴，精度也不高。
    4、電解測厚法
    這種方法與上述三種方法不同，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層，精度也不高，測量起來較其他幾種更為麻煩。
    5、放射測厚法
    這種方法測量昂貴，適用于一些特殊場合。

技術指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。